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嵌入式存储器的内建自测试和内建自修复 总被引：3，自引：0，他引：3
指出内建自测试是嵌入式存储器测试的一种有效方法 ,对该领域的研究情况进行了评述 .总结了存储器传统的故障模型 ,重点讨论了诱导故障分析方法以及读干扰故障、错误读等新的故障模型 .详细分析了嵌入式存储器的典型内建自测试方案 ,讨论了在内建自测试电路中增加内建冗余分析、内建故障诊断和内建自修复等功能的可行性 . 相似文献
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在推导鼓形球台薄壳的磁弹性力学基本方程的基础上,采用分离变量法,对其进行了磁弹性力学分析,并通过具体算例,给出了磁场参数与薄壳应变、变形之间的关系. 相似文献
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