排序方式: 共有3条查询结果,搜索用时 73 毫秒
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对不可测故障进行测试产生是影响时序电路测试产生效率的一个重要因素。提出了一种基于简化可控性计算的识别时序电路中不可测故障的算法,运用该算法无须搜索便于识别出时序电路中相当一部分不可测故障。针对ISCAS89电路的实验结果也验证了其有效性。 相似文献
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