对纵向莫尔条纹测微系统中几个问题的分析

本文分析了纵向莫尔条纹在微小位移测量系统中的能量分布及稳定性。     

不等距光栅及其对位移的放大作用

本文通过实验观察到光栅常数略有差异的两块光栅平行迭放时出现的纵向暗条纹及其对位移的放大作用。推导出暗条纹间距及放大倍数与光栅常数的关系式。原则上提出一种测量微小位移的可行方法。