一种考虑漏电流功耗的快速校正线性模型的瞬态热分析方法

随着集成电路特征尺寸不断缩小，三维集成电路越来越受重视。然而，由于三维集成电路采用多层堆叠，导致芯片内部能量密度极高、散热困难。因此，精确的三维集成电路热分析是控制三维集成电路温度的重要前提。此外，实验结果表明稳态和瞬态热分析的温度差异可高达60 K,因此，在某些温度敏感的关键场景中，快速、准确的瞬态热分析是必不可少的。基于已有文献提出的漏电功耗校正线性模型稳态热分析方法，本文进一步提出了快速校正线性模型方法应用于瞬态热分析问题中。该方法采用后向欧拉法对时间进行离散，并通过减少每个时刻点中迭代方程雅可比矩阵的更新以提高计算效率。实验结果表明：本文提出的方法在最高温差不超过0.521 K的精度下，相比已有的方法有约1.3～3.1倍的加速效果。     

启发式极性决策算法解SAT问题

提出了一种启发式极性决策的可满足性问题（SAT）新算法.该算法继承了当前SAT解决器的许多策略：快速BCP、子句记录、重启动搜索等.同时,该算法通过预先根据Karnaugh图的覆盖分布计算变量极性,将其加入到DPLL的决策过程中,大大降低了搜索过程中的冲突次数.实验表明采用该算法的解决器——DiffSat,能够解决许多目前最有效的解决器Zchaff和MiniSat所不能解决的实例.尤其是对于Bart基准系列中的每个实例,DiffSat都能够在0.03s内解决,而Zchaff和MiniSat在给定的900s内不能够解决大部分实例.而且,DiffSat解决器在某些实例上的特性远远优于具有代表性的基于不完全随机算法的解决器DLM.     

结合高级正向推理过程的可满足性问题解决器

提出了一个可满足性问题解决器,它结合了DPLL(Davis Putnam Loge- mann and Loveland)算法和作为高级推理技术之一的失败性文字检查(FLD,Failed Literal Detection)技术.在失败性文字检查技术中,又提出了动态筛选方法,它包含了两条规则: 内部和外部筛选.在保证能在每个决策层上发现大部分失败性文字的同时,降低了失败性文字检查所测试的文字数目及相应的计算时间.不同于其他类型的预定义的删除标准,在这一方法中文字的删除是动态的,从这点上讲,文中的失败性文字检查算法可以适应不同类型的测试基准实例.许多不必要的测试可以被避免,因而提高了失败性文字检查的计算速度.为了进一步提高失败性文字检查的效率,故此还增加了其他静态的测试约束.实验表明,经过优化后的失败性文字检查算法的效率明显高于其他的高级正向推理技术.     

基于SAT的分离制造攻击方法

芯片代工厂可能进行诸如IP盗版、过度生产和硬件木马插入等一系列的恶意攻击.分离制造是一种抵御来自芯片代工厂芯片攻击的重要技术.针对分离制造工艺,目前最好的攻击方法是基于网络流的邻近攻击算法,但在多数情况下,这种邻近攻击算法并不能完全恢复出原始电路.本文提出了一种基于布尔可满足性的攻击方法(SplitSAT),它利用功能正常的电路作为黑箱模型,利用多路复用器对待攻击的不完整电路建模为逻辑加密电路,将恢复电路连接关系的问题转化为逻辑解密的可满足性问题,采用已有的CycSAT算法求解带环路的可满足性问题,可显著提高邻近攻击的成功率.考虑到SAT算法可求解的问题规模有限,本文提出经验式的解空间缩减方法,利用现有物理信息和自动化布局布线工具的特点,降低了解空间规模,提高了SplitSAT攻击效率.实验结果验证了本文提出SplitSAT算法的有效性.     

利用正交方法解SAT问题

提出了一种解决SAT问题的新算法.该算法首先定义了子句之间的正交关系;然后从消除子句之间的交叠信息出发,利用正交子句的特性,结合有效的简化技术,逐渐将问题简化为一组与原问题完全等价的正交子句组;最后,根据正交子句组对整个赋值空间的覆盖情况来判断SAT是否满足.该算法为SAT问题的解决提供了一个新的思路.