SPRITE器件的最佳参量

从狭缝光扫描时一维载流子浓度分布的理论出发,计算了SPRITE器件的最佳读出区长度,讨论了寿命对SPRITE器件性能的影响。SPRITE器件读出区位置的选取与寿命有直接关系,材料的寿命不同,读出区最佳位置亦有改变,在选取读出区最佳位置时,应考虑寿命的因素。     

掺钇非晶硅膜的红外吸收谱

研究了不同衬底温度,不同掺钇浓度的a-Si:H(Y)膜的红外吸收谱,并与未掺杂的a-Si:H 膜比较。利用吸收峰的积分估算了样品中Si-H 键的数目。