涂层对热电偶热电性能及大气中寿命的影响

在难熔金属热电偶表而施加涂层的目的,旨在使原仅限和真空、中性及还原气氛中测量的热电偶能在大气中使用.本文讨论涂层对难熔金属热电偶在氧化气氛的"热电势—温度","热电势—时间"的关系及其寿命的影响.具有涂层的W/M.热电偶在氧化气氛(常压下1500℃取得263小时±1%t的最高记录,而W-Re热电偶存1500℃试验的前70小时偏差也在1%t内.而没有涂层的热电偶仅支持数分钟便破坏.     

利用“熔线法”对钨—铼高温热电偶的研究

“熔线法”检定高温热电偶,其独特之处在于经济、简便、又有一定的准确性。前阶段我们曾经利用“熔线法”在铝、金、钯、铂四个熔钯点温度对W—5Re/W—20Re(批号7805—87)高温热电偶进行检定。并建立一条适合该批热电偶的“热电势——温度”关系方程式。本文增加了锌点参考温度,并用同亲的“熔线法”对不同批号及不同型号的钨—铼热电偶进行分度试验,并得到如下热电方程式E_t=a_0 a_1t a_2t a_3t~3 a_4t~4 … a_nt~n。应用不同金的已知熔点,上述方程式常数项即可求得。因此,W-5Re/W-20 Re及W-3Re/W-25Re的方程式分别为:E_((5/20))=-2.322 2.432×10~(-2)t-7.807×10~(-6)t~2 3.291×10■t~3-6.718×10~(-13)t和E(■25))=-1.613 1.830×10~(-2)t 1.937×10~(-6)t~2-2.328×10■t~3-2.195×10■t~4。上述方程式计算结果和不同厂商的分度值在允许误差±1%t之内。因此,这样方法可以建议作为工作生产实际应用。     

用低纯度黄金作为“参考点”通过“熔线法”力对热电偶进行检定

本文详尽地以低纯度黄金的熔点温度为例,阐述“熔线法”对Pt—10Rh/Pt 热电偶检定的各种具体方法及其试验结果。讨论低纯度黄金作为“参考点”检定热电偶的可靠性,介绍如何通过“熔线法”确定低纯度黄金的熔点,并将这一熔点修正后,作为对热电偶标定的参考值的依据。通过试验结果表明:低纯度黄金进行的“断线(片)法”及“绕线(片)法”对Pt—10Rh/Pt 热电偶的复现性都在0.5℃之内。可以作为一般实验室及工业生产上,及时、简便地利用“金点”检定热电偶。     

钼、钨和钨铼热电偶线材的抗氧化涂层

钳、钨和钨铼合金在高温不能抗氧化,它们组成的热电偶仅限于真空、中性或保护气氛中工作。应用化学蒸汽淀积(CVD)或粉末包渗的方法,在热电极表面施加抗氧化涂层,使其能在高温氧化气氛中使用至极高的温度。涂层的使用寿命决定于涂层厚度和质量。但层厚过厚容易开裂和产生显微裂纹,反而缩短它的使用寿命。在扩散涂层上面附加一层陶瓷涂层封闭原涂层的显微缺陷,可以提高其使用寿命。有涂层的热电偶的热电势,与没有涂层的热电偶基本一致,其误差在容许范围之内。这种热电偶曾在平炉和转炉中进行过钢水连续测温试验,结果出现了乐观的现象。     

彩色分类金相学—利用扫描电子显微镜或电子探针配合彩色滤光片制成“彩色复合照片”以研究材料的显微结构的一种方法

彩色分类金相学是不同于一般的彩色金相学,不能用光学显微镜进行观察而只能用特殊的设备如扫描电镜或电子探针将试样的结构特征先拍成黑一白底片,然后配合原色滤光片,并指定某一原色来代表某一相或特征,再依次翻拍在同一张彩色底片上以制成一张“彩色复合照片”。单从这一张照片就能够看到试样所反映出的所有信息。本文列举两个典型例子来说明这种彩色分类金相的操作方法和应用,同时在所举的例子中还列出一种叫做“电压对比方法”用以控制半导体器件或集成电路的质量。本篇报导的目的,希望引起读者对这一较新的发展的注意及在国内开展这方面的工作。     

提高金属显微结构的对比度的一种简便的彩色金相方法“—附加薄膜法”

本文叙述在金相试样上如何利用“附加薄膜”方法并通过薄膜的干涉作用在试样表面产生不同的彩色以提高各个相的对比度,有利于复杂的显微结构和多相结构的分析和鉴别。这个方法是在预先抛光好的及经过轻度蚀刻的试样表面上涂上一层油膜,成者在试样上滴上稀释的塑料溶液使之成为薄膜。文中讨论了在白光照射下薄膜发生干涉的机理及如何产生不同的彩色以将各个相区别开来。同时还讨论有关彩色金相学中所出现的若干问题。最后又将这一“附加薄膜”方法和其他现行的彩色金相方法比较,得出恰当的评价。     

用"熔线法"对铂-30铑/铂-6铑热电偶在钯点温度的校正

本文讨论在空气常压下,用"熔线法"对Pt-30Rh/Pt-6Rh热电偶在钯点校正的复现性,以及炉温均匀性对校正测量值的影响.试验结果表明:热电偶在钯点的复现性为±1℃之内,可以在工业上作为一种简易方法对热电偶进行"监督性"的校验.     

对黄铜渗硅后所形成的特异结构的探讨

一系列C_u-Z_n合金放入密封的坩埚中进行渗硅,坩埚内的粉末包括70ωt%si,28ωt%Al_2O_3和2ωt%NH_4Cl,坩埚加热到1050℃保持5小时并慢冷至室温后,此时发现了一些极不寻常的显微组织,它呈现出锯齿形薄层的网状物,式样经X光衍射法,测出有α,β,γ和一个未决定的相,又用电子显微分析测试样成分,用扫描电镜观察其显微结构细节,又用扫描透射电镜研究特异结构微细部分。本文研究目的是测定合金会出现什么棚及产生“特异结构”的机理。     

用"熔线法"对W—5Re/W—20Re高温热电偶的简易分度及"热电势——温度"关系式的建立

本文通过"熔线法"在铝(660.37℃)、金(1064.43℃)、钯(1554℃)、铂(1772℃)各熔点温度对W-5Re/W-20Re热电偶的检定,得出了适合700-2000℃范围的E_1=f(t)热电方程式,并以它作为计算每百度值的依据.试验表明:公式计算值和"比较法"测定值十分接近,与出厂分度值相比偏差±1%t范围之内.这种方法可以配合其它方法建立钨铼热电偶的简易分度和"监督性“的检验.