基于BIST的板级数模混合电路的可测性研究

本文通过对电路板可测性设计技术的广泛研究，提出基于板级BIST技术的可测性设计方法，在此基础上设计和研制了具有可测性的板级数模混合电路验证样机。该样机采用分块监测，逐级诊断的故障诊断策略，采用模块和元件两级故障定位方法，验证平台的测试实验表明分级监测的可行性，指明了可测性设计和内建自测试技术的研究新思路。