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热膨胀是陶瓷材料重要的物理性能.具有超低膨胀特性(α<1×10~(-6)/℃)的陶瓷材料在许多高技术领域有着重要的应用.80年代中期发现了以NaZr_2P_3O_(12)为母相的Na_2O—ZrO_2-P_2O_5-SiO_2系统超低膨胀陶瓷.由于它们还具有优良的抗热冲击性能、低的导热系数和适当的强度,有希望发展成理想的热机部件结构陶瓷材料.这些化合物通常具有磷酸锆钠型结构,属六方晶系(三方晶系,空间群R(?)c).其热膨胀参数可用两个主热膨胀系数α_α和α_(?)即垂直和平行于六方c轴的热膨胀系数来表示.这种由PO_4四面体和ZrO_6八面体共用顶角氧联结形成的开放式骨架结构,其某些离子可被广泛替代,形成一系列类似结构具有相异性能的化合物.本文研究不同组成的磷酸锆锶钾系统陶瓷材料的各个热膨胀系数随温度的变化及各向异性性质,以寻找零膨胀陶瓷的组分及探讨该类陶瓷何以具有超低热膨胀性能的本质.1 实验 相似文献
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测定非立方晶系晶胞参数的X射线衍射线对法 总被引：3，自引：1，他引：2
用测定多晶衍射线的两条线之间衍射角差δ_(ij)的办法计算晶胞参数有许多优点。因为相对地测定两条衍射线间的距离或角差在实验技术上比较简单和方便,对X射线仪器和测长设备的要求也比较低,且能达到更好的准确度。Popovi脚和Halliwell等提出了最简单的立方晶系线对法方程。本文导出了普遍适用于一切晶系的最复杂情况的线对法方程,提出了用这一方法测定晶胞参数的步骤,给出了电子计算机数据处理程序和测定实例。 相似文献
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非对称线形衍射线的线形拟合与Κα双线分离 总被引：1，自引：0，他引：1
X射线衍射或其他衍射、光谱、频谱图中常常出现谱线的重叠现象。X射线衍射图中低角区总存在Κα双线重叠的问题.对X射线衍射线的线形拟合及Κα双线分离方法的研究,在晶体结构分析、晶粒大小测定、物相定量和晶胞参数精密测定等工作中都有重要的意义. 相似文献
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X射线小角散射中的粒子间干涉效应是影响实验结果的一个重要因素.已有的若干粒子间干涉的模型和理论不能很好地解释实验事实.实际使用的粒子间干涉效应校正方法为不同浓度试样归一化散射曲线作图外推法.然而在材料科学的许多应用中常常无法测量不同浓度的稀释试样.因此找出干涉函数的经验方程有重要意义.该文测定了超细二硫化钼不同浓度试样在不同角度下的强度衰减因子,从而导出了干涉函数的经验方程:(?)~(-1)=[1+2.5ω~(1.4)+2θ°(15.4ω~(0.5)-23.6ω~2-1.3ω~(0.01))]~(-1) 相似文献
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AV_6O_11(A为碱金属或碱土金属)型结构化合物令人感兴趣的是其结构上3 和4 离子的分布及转换和其性能上表现出的金属导电性及铁磁性.研究这类物质的结构对了解和改善其性能,研究材料化学一般规律都有很重要的意义.De Roy等采用电解方法首次合成NaV_6O_11,并确定了其晶体结构,但其空间群后来被证实是错误的.Kanke等得到了SrV_6O_11及V离子被Ti,Cr和Fe等部分取代的化合物的晶体结构和X射线粉末衍射数据,以求了解不同取代离子对晶体结构和性能的影响;后来又通过SrV_6O_11,NaV_6O_11单晶样品得到了各自的晶体结构.最近,Kanke等通过X射线单晶衍射和中子衍射方法揭示了 相似文献
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碳化硅是层状结构化合物,是典型的多型性物质。已发现的多型结构变体达136种,巳测定过晶体结构的约40种。碳化硅高层多型变体的六角C轴晶胞参数可达四千埃以上,单位晶胞原子数目高达三千以上,因而晶体结构测定有一定的困难。碳化硅多型体晶体结构的测定通常采用尝试法,根据已有的结构规律选择可能的原子排列方式作强度计算并与实测强度值作比较。 相似文献
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用测定多晶衍射线的两条线之间衍射角差δ_(ij)的办法计算晶胞参数有许多优点.因为相对地测定两条衍射线间的距离或角差在实验技术上比较简单 相似文献
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Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法是研究晶体结构和微结构的有效方法，但不同的数据处理将直接影响Ｒｉｅｔｖｅｌ方法所给出的结果。该文研究了数据处理中高角数据截取Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法结果的影响不同的结构参数对高角数据截取有不同的灵敏度，一般的结构参数在常规衍射角范围就能取得较好的结果，但对轻原子体系和晶胞参数的准确确定，需要在计算中引入一定的高角衍射数据。 相似文献
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钽酸锂(LiTaO_3)单晶是一种重要的铁电晶体,具有较好的电光性能、压电性能和热电性能,有着较广泛的应用.Abraham等曾用X射线衍射和中子衍射详细测定了LiTaO_3单晶体的结构,属三方晶系,空间群R3c,六方晶胞参数为a=5.15428,c=13.78351,三方晶胞参数为a_R= 相似文献