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利用高分辨透射电子显微镜对内部氧化Cu/Mg合金产生的Cu/MgO界面进行了研究，观察到了一种新的取向关系，这种取向关系不同于通常观察到的两晶胞取向完全一致的简单关系。而且对界面的结构和位错进行了研究，发现两位错线之间的距离与O点阵理论符合得很好。 相似文献
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运用高分辨透射电子显微镜对取向关系分别为45°[100]和66°[011]的MgO/Cu界面结构进行了研究,界面附近由于MgO与Cu相互重叠而出现Moiré条纹,两种不同取向关系所对应的Moiré条纹分别为平行和旋转条纹,对两种Moiré条纹的取向及间距进行了分析,理论分析与实验结果符合得很好. 相似文献
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