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1.
本文研究了硅全离子注入的平面型GaAs双栅MESFET.有源层注入条件为110ke V、3.5×1012cm-2,接触层注入条件为50keV、8×1012cm-2,退火条件为800℃30分钟.FET的铝栅1.5×300μm,Au-Ge-Ni为欧姆接触.  相似文献   
2.
鉴于氮在磷砷化镓中能形成等电子陷阱,人们曾希望向砷化镓掺氮并研究其有关特性,但均未获成功[1~3]。主要困难是,即使用离子注入技术向砷化镓注14N+,但退火后的结果表明,氮的特征峰已不复存在。  相似文献   
3.
用离子注入技术对磷砷化镓进行了掺氮,给出了组分在0.175 ≤ x ≤ <0.8间氮能级随组分变化的方程式.  相似文献   
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