一种改进的SRAM并行BIST电路设计

对系统嵌入式存储器进行测试是非常重要的,内建自测试(built inself test,BIST)方法是系统工作期间测试存储器的有效方法。基于存储器透明(Transparent)测试的TRSMarch算法,提出了一种改进的SRAM并行透明测试BIST接口电路。该电路适应不同大小的存储器,执行测试并响应测试中断,同时由于采用边界扫描单元,可以通过边界扫描结构(JTAG)对存储器进行有选择的测试。给出了相应BIST控制器的电路实现及其仿真结果。测试电路能实现TRSMarch算法,具有故障覆盖率高、硬件开销小的特点。     

基于干扰观测器的再入飞行器切换多胞控制

针对再入飞行器飞行包线跨度大,系统不确定性及强干扰的特点,提出了一种基于干扰观测器的切换多胞控制方法。将再入飞行器建模为切换多胞系统,并将系统中的不确定项和干扰项等价为复合干扰。提出基于自适应Super-Twisting算法的干扰观测器对系统复合干扰进行估计,并在控制器设计中进行补偿,抑制复合干扰对系统的影响。利用Lyapunov函数方法证明了考虑复合干扰情况下闭环切换多胞系统全包线内的稳定性。数值仿真结果表明,该方法对于系统不确定和干扰具有较强抑制效果,能够实现对指令信号的精确跟踪。