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针对HL-2M偏滤器等离子体对碳材料的侵蚀问题，通过使用直线等离子体装置(SCU-PSI)模拟偏滤器的工况以探究高通量氢等离子体对CX-2002U碳纤维复合材料的侵蚀行为，从而为此材料能否用于HL-2M装置的偏滤器提供依据. 在通量恒定(1.48×1023 m-2s-1)的条件下，通过研究不同辐照时间下氢等离子体对样品的化学侵蚀发现，氢等离子体对样品的侵蚀是一个随时间周期变化的过程. 此外，通过在氢气中混入杂质气体探究了杂质对氢等离子体侵蚀样品的影响并发现，氢等离子体中的杂质通过侵蚀沉积在样品表面的碳颗粒以增强其对样品的侵蚀. 相似文献
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