首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   17篇
  免费   2篇
  国内免费   2篇
系统科学   2篇
综合类   19篇
  2017年   1篇
  2014年   1篇
  2012年   1篇
  2010年   3篇
  2009年   1篇
  2008年   2篇
  2007年   2篇
  2006年   2篇
  2005年   1篇
  2004年   2篇
  2003年   2篇
  2001年   1篇
  1997年   1篇
  1996年   1篇
排序方式: 共有21条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
基于标量衍射理论 ,考虑焦距长度与微透镜尺寸的关系 ,提出了一种新的制作二元光学衍射微透镜的方法———部分刻蚀法 .利用这种方法制作了 2 5 6× 2 5 6硅微透镜阵列 ,并将其与PtSi红外焦平面阵列单片集成在一起 ,使红外焦平面阵列的灵敏度R和比探测率D 都提高了 1.7倍  相似文献   
2.
设计了一个用于可见光、中波红外、短波红外的三通道图像采集处理系统.系统中采用FPGA作为主控制器,实现对三通道图像的实时处理与输出.外场成像实验结果表明,该系统能达到实用要求.介绍了一些该系统的硬件和软件设计方案.  相似文献   
3.
红外焦平面阵列普遍存在非均匀性,会严重影响红外成像质量。对非均匀性的主要来源和表现形式进行了探讨,介绍了在工程应用中常用的校正方法,两点温度校正法、时域高通滤波法和人工神经网络法,给出详细的推导,并对几种校正算法进行了分析和研究,对这几种校正算法的优点和缺点进行讨论和综合对比,为进一步开展红外焦平面非均匀性校正提供参考意见。  相似文献   
4.
为解决红外焦平面阵列的非均匀性噪声制约红外成像质量问题,提出基于场景的神经网络非均匀性校正算法,利用帧间运动的图像序列实现非均匀性校正.先采用基于投影的运动估计算法选取神经网络算法的学习参考帧,再进行偏置矩阵计算的基于帧间运动判断的神经网络非均匀性校正算法,有效克服了传统SBNNT由于运动不足产生的鬼影问题.算法已在以TMS320DM643为处理核心DSP硬件处理平台上实现,取得了较好的校正效果.  相似文献   
5.
设计了一种用于微悬臂梁红外焦平面读出电路的片上ADC。该ADC采用流水线结构实现,采用带溢出检测的多位第一级和后级功耗逐级缩减的方案优化系统功耗,提高线性度。该设计采用0.35μm的CMOS工艺流片验证。测试结果表明:5V电源电压、10M采样率时电路总功耗为98mW,微分非线性和积分非线性分别为-0.8/0.836LSB和-0.9/1.6LSB;输入频率为1MHz时,SFDR和SNDR分别为82和67dB。  相似文献   
6.
提出了一种基于FPGA的红外焦平面非均匀性校正的实现方案。在系统中,采用基于黑体的两点校正的方案。另外,校正参数的获取,可以采用两种工作模式,通过存储器下载和在线计算校正参数。实验表明,这种解决方案可以实时完成校正处理,并有效地抑制了器件的非均匀性。  相似文献   
7.
利用热释电红外焦平面阵列(IRFPA)进行红外成像是非制冷红外成像的主要技术途径之一,虚拟仪器技术的应用对新型器件的研制起到了积极的推动作用.采用基于虚拟仪器技术的IRFPA读出电路(ROIC)的参数测试系统,对新研制的128×128热释电ROIC进行了测试,获得了不同IC硅圆片上的ROIC芯片的主要参数,其中直流放大倍数Gdc≈10×,不均匀性NU<4.5%,动态范围Dr>64dB.测试系统具有良好的扩展性,为获得清楚的128×128热释电红外热像提供了技术支持.  相似文献   
8.
红外焦平面器件非均匀性校正数字实现   总被引:12,自引:0,他引:12  
红外焦平面阵列(infraredfocalplanearrays,IRFPA)成像是当今红外成像技术发展的主流方向,但IRF PA特有的非均匀性严重地限制了系统的成像质量,因此对红外焦平面阵列器件的非均匀性实施有效的校正是其应用中必须解决的一项关键技术。在阐述非均匀性校正算法原理的基础上,着重论述了一种基于TMS320C55XDSP的非均匀性校正算法的实时实现技术,给出了实测结果,验证了该技术的有效性和工程实用性。  相似文献   
9.
针对传统的两点校正法准确度不高的缺点,提出一种二点多段线性校正的改进算法。这种算法对增益系数和偏移系数重新进行推导,弥补了两点多段校正法中由于校正因子推导带来结果值偏大的不足,并对算法进行了仿真。  相似文献   
10.
提出了离子束刻蚀制备微透镜阵列的工艺原理;研究了球面型光致抗蚀剂掩膜的形成过程以及硅微透镜离子束刻蚀的实验条件.表面探针测量及扫描电子显微镜(SEM)实验证明了该技术可在较低的衬底温度下(低于200℃)有效地制备出球面型微透镜,并用表面探针测量确定了硅微透镜的尺寸.  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号