0.4～2.6 MeV宽能区质子在轻核Al上160°背散射截面测量

应用北京师范大学2×1.7 MeV串列加速器提供的质子束,采用相对测量方法测量了0.4~2.6 MeV宽能区质子在轻核Al上160°背散射截面.结果表明,对于质子在轻核Al上的散射截面,可用卢瑟福散射截面公式计算的最大入射质子能量是1.5 MeV,质子能量大于该值时,出现连续的非卢瑟福散射共振区.     

针状铁素体晶粒取向差角度的EBSD研究

利用电子背散射衍射技术得到了成像质量图、针状铁素体晶粒取向差角度分布柱状图,表明取向差角度分布出现两个峰值,一个出现在针状铁素体晶粒间的取向差在0~5°范围内,另一个出现在针状铁素体与其邻近的马氏体/贝氏体晶粒的取向差在50°~60°范围内.可以推测这些针状铁素体晶粒可能是从同一个奥氏体晶粒上生长演变形成的,但也可能是针状铁素体晶粒在生长后期合并的结果.     

异步冷轧纯铁回复与再结晶的电子背散射衍射研究

本文采用异步轧制工艺成功制取等轴状超细晶纯铁,通过DSC曲线确定其退火工艺,使用电子背散射衍射（EBSD）观测超细晶工业纯铁在不同温度退火后的组织形貌和晶粒尺寸,研究其回复再结晶行为.结果表明,在400℃时,材料开始发生回复,再结晶形核开始,随着退火温度的提高,再结晶程度加深.当退火温度达600℃时,再结晶过程基本完成.     

含蜡原油的超声背散射

在实验条件下对一种含蜡原油的声背散射进行了测量，用小波变换技术降低信号噪声，提高了信噪比。声背散射现象的出现是原油中蜡晶析出的直接标志，用声背散射信号反蜡晶析出是合适的。     

晶粒取向和物相组成的电子背散射衍射测定

介绍了用扫描电镜电子背散射衍射（ＥＢＳＤ）９附近所进行的初步研究工作。这些工作表明，２Ｈ马氏体的基面由母相的一个｛２２０｝ｐ面转变而来，一个自协作马氏体片群内的Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ４个变体由母相的不同的｛１１０｝ｐ面转变而来。用ＥＢＳＤ技术可测出它们之间的取向关系。ＥＢＳＤ技术所提供的结构信息与Ｘ射线能谱分析提供的化学成分信息相结合使微区物相鉴定的结果更为可靠。发现Ａｌ６２．５ｃＵ２５Ｆ１２．５合金的铸     

注入温度对氧注入制成的SOI膜质量的影响

选择不同的靶温进行高能大剂量氧离子注入,并进行了高温退火。利用离子背散射技术、透射电子显微镜和掠角 x 射线衍射分析样片,发现:低温下注入能产生非晶层,退火后有多晶硅生成。提高靶温能有效地减小损伤,特别是440℃注入的样片经过退火表面硅层很接近未注入硅片。     

原子内壳层电离截面研究中薄靶厚度的卢瑟福背散射分析

作者使用^241Amα标准源与卢瑟福背散射相结合的方法，对四川大学原子核科学技术研究所的2．5MeV静电加速器进行了能量刻度，并利用卢瑟福背散射方法测量了一系列A1衬底金属薄靶的厚度，所测结果与称重法进行了比较，作者将卢瑟福背散射方法所测厚度值运用到电子碰撞引起原子内壳层电离截面的测量工作中，取得了满意的结果。     

含蜡原油的超声背散射

在实验室条件下对一种含蜡原油的声背散射进行了测量,用小波变换技术降低信号噪声,提高了信噪比。在此基础上,分析了声背散射信号与原油中蜡晶析出的关系。结果表明,随着温度的降低,蜡晶浓度线性增加。声背散射现象的出现是原油中蜡晶析出的直接标志,用声背散射信号反映蜡晶析出是合适的。     

几种金属薄膜密度的测量

用两种方法测量了几种金属薄膜的密度．介绍了应用卢瑟福背散射（ＲＢＳ）技术结合台阶仪测厚来测量薄膜密度的测量方法,并将所得结果进行了讨论,分析了两种测量方法的优缺点