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1.
分析偏心热源在矩形基板上热分布理论,利用局部模拟和理论论证的方法,获得m′×n′阵列中各芯片的质心温度一致的排布.利用这种排布方法,得出能求解芯片质心过余温度(CTEC)的简单关系式.同时,模拟了4×4,6×6阵列芯片的过余温度分布的情况.结果表明:m′×n′阵列中LED芯片以芯片间距(a/m′,b/n′)在尺寸为a×b的矩形基板上对称排布时,各芯片的CTEC都相同.  相似文献
2.
结温是影响LED性能的重要参数,快速、准确地测量LED结温对LED产品设计、性能检测具有重要的意义。在不同驱动电流下,测量了GaN基白光LED阵列不同衬底温度时的归一化光谱分布,计算其质心波长,分析了质心波长随LED阵列平均结温变化关系,测量了LED阵列结温,并与中心波长法的测量结果进行对比。研究结果表明:经光谱仪测量,质心波长与平均结温变化存在良好的线性关系,且随着驱动电流的改变,直线斜率呈指数关系变化。与中心波长法相比,本方法的测量准确度更高。因此,采用质心波长测量GaN基白光LED阵列结温是一种直观的非接触的有效方法。  相似文献
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