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将统计性不确定度评价方法应用到高纯锗(HPGe)探测器参数的标定和修正工作中. 结合蒙特卡洛模拟和统计性不确定度评价方法，分析探测器参数在探测效率模拟结果中的相对重要性，对重要参数同时进行多次简单蒙卡抽样，模拟计算探测器对多空间点多γ源的探测效率，找出真实效率与模拟效率的最小偏差，即能确定最佳探测器参数. 结果表明，此方法修正探测器参数后，对60Co，137Cs， 241Am源在标定点的模拟效率与真实效率相对误差均小于0.5%，在3个验证点的模拟效率与真实效率相对误差均小于0.5%. 相似文献
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