基于Wiener滤波器的波形比较方法及其在最坏情况分析中的应用

提出一种基于Wiener滤波器的波形比较方法,应用于数模混合电路的最坏情况分析.该方法能考虑一定的时间容限和信号容限,自动比较电路在不同的工艺参数、电压和温度(PVT)组合下的仿真波形,通过波形形状的比较来实现电路性能验证,有效地提高了电路验证效率.此方法成功地运用到波形比较软件系统中,并已在Intel技术开发(上海)公司内部推广使用.     

片内偏差空间相关性的非参数化估计方法

半导体器件的片内偏差是影响芯片性能的主要因素之一,片内偏差具有空间相关性.随着工艺尺寸的持续缩小,片内偏差空间相关性日益复杂,传统方法采用的参数化方法难以正确描述相应的相关函数;同时研究发现片内偏差空间相关性在不同方向上有不同的表现,即各向异性.为提高片内偏差空间相关性建模的准确性,提出一种非参数化的估计方法,使用B样条函数作为相关函数的基函数进行拟合,并与多项式拟合的方法进行比较,实验结果显示该方法能更好地符合统计特性.     

MCS—51多机系统

本文给出了一种ＭＣＳ—５１多机系统的拓朴逻辑结构及实现方法．该系统的联接仅用一对双绞线，通讯口利用８０３１串行口加上ＭＣ１４８８、ＭＣ１４８９构成，故使于实现或时原有单机系统的扩展．文章分析了系统的拓朴结构和通讯协议．为证实文中提出的方法，介绍了实例“自动寄包柜系统”．     

高校资产管理系统设计中的综合化对策

参照湖州师范学院数字化校园建设进程及现有资产管理模式，提出一种综合化的资产管理理念，设计一种囊括高校各类资产的综合化管理系统，对其中一些关键点做了详细研究。     

一种用于双成像光刻中的版图分解算法

双成像光刻技术是在集成电路制造工艺不断缩小时解决光刻后图形失真问题和提高准确度的最有效的方案之一.在双成像光刻中,需要进行版图分解,将版图中多边形分解为更简单的图形的集合.现有的多边形分解算法不适合应用于双成像光刻,会产生工艺无法接受的薄片,覆盖误差会导致图形断开,与双成像光刻中的版图分解的目标也不同.提出了一种新的版图分解算法,通过引入交叠,消除薄片的产生,同时解决由于覆盖误差引起的图形断开问题;减少分解后的矩形数目,从而减少双成像光刻中颜色分配后的冲突总数,适合用于双成像光刻技术.实验说明该算法有效.     

主从式实时测控系统中面向硬件对象的类设计与实现

给出了在主从式实时测控系统中，运用面向对象的思想，通过构建硬件对象类进行主机应用程序开发的实现方案、并以基于Windows平台，采用Delphi语言的实时温度／压力测控系统为例，介绍了对下位机、显示屏、读卡机及打印机等硬件对象的具体编程实现的步骤和方法。     

关于图存在三角形的一个充分条件

对图论中的Woodall关于结合数的一个猜想作了研究.证明若图G的结合数bind(G)≥6 √22/7,则图G包含三角形,同时还证明了:若bind(G)≥3/2,且δ(G)＞P(G),则Woodall猜想是正确的,从而改进了现有的某些结果.     

紧图与超紧图的一些理论

研究紧图与超紧图。得出连通且正则的紧图必为超紧图。研究了正则的紧图与点可迁图的关系。     

一种构造紧图的方法

根据一些已知的紧图构造出两类新的紧图。证明了在一定条件下连通正则紧图的联图为紧图,两个连通正则紧图之间再加一条边仍为紧图。