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传统的大型LED显示屏系统以单片机MCU、ARM或PLD为核心控制芯片,以FPGA为核心的LED显示屏控制系统设计实现起来比较复杂,并且需要以高性能的FPGA芯片作为基础,而以微处理器为核心的LED显示屏控制系统不够灵活,在改变LED屏幕显示尺寸时,需要大幅修改系统设计,PLD虽在处理速度上有较大提高且能很好地控制多模... 相似文献
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为了准确识别组合电器(gas insulated switchgear,GIS)自由金属颗粒缺陷,研究了GIS母线气室金属颗粒的受力情况、运动特性,用仿真方式分析了不同位置颗粒的电场分布,归纳了金属颗粒的缺陷表征,比较了颗粒缺陷的检测方法,找到了识别颗粒缺陷的主要图谱和诊断方法,并用案例进行了验证。研究结果表明:金属颗粒在GIS母线气室中,其所处位置不同,受到的电场力也不同,电场力越强,颗粒运动越剧烈,更易引起局部放电; GIS设备内部存在金属颗粒缺陷时,信号幅值图、波形图、飞行图和声音等主要图谱能够有效反映缺陷类型,检测时通过多图谱诊断方式可准确识别颗粒缺陷。 相似文献
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