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旁路攻击对密码芯片安全造成了严重威胁,是当前研究的热点,但其存在分析时间过长的问题,极大影响了实验效率。以差分功耗分析(differential power analysis,DPA)为研究目标,详细分析了功耗轨迹样本条数和样本点数对程序特征的影响,找到程序中最耗时部分为功耗轨迹数据读取,通过改进数据的处理方式,将数据读取次数降低为原程序的1/64。在改进分析结果与原程序完全一致的前提下,获得了高达39倍的加速比,大大提高了旁路攻击的实验效率。  相似文献   
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