首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   2篇
  免费   0篇
综合类   2篇
  1989年   1篇
  1983年   1篇
排序方式: 共有2条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1
1.
用散斑干涉计量方法测定位移首倡于1968年.十多年来,这种应用技术得到了迅速发展.此项新技术用到试样表面散斑图样的高分辨率照片.测试中,与试样不发生机械接触,也无需对试样表面作预处理.散斑法所用的光学系统比全息法简单得多.散斑法可望成为变形、位移、旋转与振动分析的一种有效方法.本文阐述应用二次曝光散斑照相测定二维变形的一种简易方法,给出实测结果,并述及有关的理论.  相似文献   
2.
提出一种光学方法以细分坐标网格.提高观测精度.此方法将形变观测分成两步:首先.用成象系统在每一指定时刻对所有标志点作全场记录;其次,用测微显微镜测定每个标志点各瞬时位置.用此法在巷底鼓模拟装置上进行实测,测值精度优于±0.07mm.而在同样情况下,目测精度仅达到±1mm.文道末还讨论了观测同时性、象差影响、测值校核可能性等有关问题.  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号