含油废水深度处理与回用技术的试验研究

确定了以臭氧-固定化生物活性炭作为含油废水回用处理核心工艺.通过对胜华炼油厂二级出水回用的生产性试验,表明该工艺对有机物和氨氮有较好的去除效果,为该工艺的设计及工程上的运行操作提供科学、实用可靠的参数.废水回用可缓解水源不足并起到保护环境的重要作用,将有明显的社会效益和经济效益.     

天线抖振响应的计算分析与风洞试验研究

对置于某一超高层建筑顶部的钢质天线的抖振响应进行了研究 .首先用随机振动理论计算了天线的抖振响应 ,而后在风洞中对天线的气动弹性模型进行了试验 ,最后还分析了天线的鞭稍效应 .计算和试验结果为天线结构的分析设计提供了可靠依据     

超高层建筑通用气动弹性模型设计

设计制作了一外形和动力特性在一定范围内可调的超高层建筑多自由度气动弹性模型.通过调节结构,它可模拟不同外形、刚度、质量、振型等参数的超高层建筑.在同济大学ＴＪ-1大气边界层风洞中,对此模型进行了一系列的风洞试验,并将其试验结果与高频测力天平试验结果进行了详细比较,得到了满意的结果.此通用模型,可用于其它超高层建筑的抗风研究超高层建筑通用气动弹性模型设计@全涌@顾明@黄鹏     

高层建筑风致静力干扰效应的试验和数值研究

首先采用测力天平模型风洞试验研究了2栋高层建筑间的静力干扰效应,得到2个相同的方形截面建筑在不同相对位置时的静力干扰因子Fm.然后基于Fluent 6平台采用RNG(renormalization group,重整化群理论)κ-ε湍流模型,计算了D类地貌风场中2栋高宽比均为6的方形高层建筑模型(10 cm×10 cm×60 cm)在串列、并列和偏置状态下的静态三维流场和风荷载;并与风洞试验得到的静力干扰因子进行了比较.结果表明,数值模拟方法是研究建筑物静力干扰效应的一种有效途径,相对于试验方法,数值模拟更具有优势.     

降低超高层建筑的局部风压措施

对一栋位于台风区的超高层建筑的刚体模型进行了风洞试验 ,测量了该建筑物表面的平均风压和脉动风压 .在特定风向角下 ,建筑物的几个位置处出现较大的负压 ,不能满足设计要求 .在对建筑物局部外形进行修改之后 ,有效地减小了最大负压 ,满足了表面石材及玻璃幕墙的设计要求 .采取的降低建筑物局部风压的措施可为其他类似实际应用所参考     

TJ—2风洞大气边界层被动模拟方法的研究

在风洞中正确复现大气边界层流动特性,是风洞试验结果可信的必要条件,为此总结了在同济大学ＴＪ－２风洞中模拟缩尺比为１：５００的大气边界层Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ等４类流场 试验研究工作,全面考虑了风速剖面、湍流度剖面、脉动风功率谱和湍流尺度４项指标,为进一步风洞试验工作了基础。     

TJ-2风洞大气边界层被动模拟方法的研究

在风洞中正确复现大气边界层流动特性 ,是风洞试验结果可信的必要条件 .据此总结了在同济大学ＴＪ - 2风洞中模拟缩尺比为 1/ 50 0的大气边界层Ａ ,Ｂ ,Ｃ ,Ｄ4类流场的试验研究工作 ,全面考虑了风速剖面、湍流度剖面、脉动风功率谱和湍流尺度 4项指标 ,为进一步进行风洞试验工作提供了基础TJ-2风洞大气边界层被动模拟方法的研究@黄鹏 @全涌 @顾明     

一种均一孔结构模型的制备和表征

对于８５－１０００ｎｍ的无孔单分散二氧化硅颗粒,采用重力沉降,离心沉降和压片等方法制备了孔结构模型,并采用扫描电镜、Ｎ２吸附法和压汞法考虑了模型的结构特点。这种孔结构模型完全排除了微孔的存在,孔分布集中,孔径大小随着颗粒径的变化而变,但孔隙度与粒径基本无关。     

TTU标模风压数值模拟及试验对比

以国际通用的低矮建筑标准模型TTU（德州理工大学）模型为考察对象，在同济大学TJ-2建筑风洞中进行了1：50缩尺模型的风洞试验研究．通过风洞试验数据与原型场地实测数据的对比，以评估风洞模拟技术的可靠性；同时，基于国际商用软件Fluent的RSM（雷诺应力）模型和CFX的SST（剪切应力运输）模型，从数值模拟的角度研究了TTU实尺度模型的定常绕流场．将数值预测的压力场与实测结果及缩尺模型风洞试验数据进行了比较，分析了风洞试验与场地实测之间、数值模拟与试验之间的异同，得到一些有参考价值的结果．     

电沉积时间对SiO2-ZnO复合光子晶体形貌及光学特性的影响

采用垂直沉积法成功制备了SiO₂光子晶体薄膜. 以SiO₂光子晶体薄膜做模板, 采用电沉积和烧结处理在ITO基底上制备了SiO₂-ZnO复合光子晶体. 利用扫描电子显微镜观察了SiO₂光子晶体模板及不同沉积时间所制备的SiO2-ZnO复合光子晶体薄膜形貌. 研究发现, 当沉积时间较短时, ZnO颗粒随机生长在SiO₂微球表面. 随着沉积时间的延长, ZnO颗粒均匀地生长在SiO₂微球表面, 以至于ZnO颗粒完全掺入模板的间隙. 对所制备的光子晶体薄膜进行反射谱测量, 发现在膜法线方向上, 光子晶体薄膜有光子带隙的出现.