三角环嵌套型双极印刷多频天线的仿真与实验

提出了一种多个三角环嵌套结构的多频天线模型及其应用实例。天线为双极印刷电路结构,每极由四个三角环单元嵌套而成,采用平衡微带线馈电,整个天线印制在介质材料的两侧。采用电磁仿真软件CST Microwave Studio?软件进行仿真分析,得到了三角环的结构参数与输入反射损耗之间的规律。设计了一个可以工作于四个频段（2.4/3.5/5.2/5.8GHz）的多频天线,制作了天线的实物并在微波暗室内进行测试,仿真与实验结果表明,该型天线能工作于4个频段,在每个频段内都具有H面全向特性,且天线尺寸仅为30mm?0mm,仅相当于工作于相同最低频段的对称振子长度的51%,具有小型化的效果,可以广泛应用于WLAN和WiMAX领域。     

高性能双极型晶体管器件研制成功

毫米波频段是满足日益强烈的高精度探测及高速率数据通信要求的关键资源。继8毫米波段（26．5～40GHz）之后，3毫米波段（75～111GHz）成为世界各国高频技术竞争的制高点。基于固态半导体技术的毫米渡单片集成电路（MMIC）由于具有体积小、重量轻、高性能及低成本等优势而被广泛应用于军事和民用领域。     

基于GRU与PCA-TL的热应力下IGBT故障预测

针对热应力下绝缘栅双极型晶体管(insulated gate bipolar transistor，IGBT)的性能随时间逐步退化的特性，将深度学习中的时间序列预测算法应用到IGBT故障预测中，提出了基于门控循环单元（Gated Recurrent Unit，GRU）与主成分分析-迁移学习（principal components analysis- Transfer Learning，PCA-TL）的故障预测新方法。该方法以电参数集电极-发射极电压VCE作为衰退参数，采用GRU模型构建衰退参数与故障时间的映射关系；利用PCA技术综合相异分布特征的IGBT故障指标，引入TL方法，通过微调GRU预测模型的参数完成从源域到目标域的迁移，实现目标域样本的故障预测。实验结果表明，基于GRU的故障预测模型具有较高的预测精度，与长短期记忆算法（Long Short-Term Memory，LSTM）算法相比，训练速度更快；PCA-TL方法可实现同类器件不同工况下的故障监测任务。验证了所提方法的可行性和正确性。