集成电路控制的发电机晶闸管自动励磁装置

本文介绍了采用集成电路控制的同步发电机自动励磁系统的工作原理和试验结果，从理论上分析减少时间常数对提高电力系统稳定性的好处，同时介绍采用分立元件的晶闸管励磁装置存在的问题和改用新型集成电路控制的晶闸管励磁系统的优越性。     

屏蔽微带线的等效网络分析

本文首次采用等效网络法分析屏蔽微带线特性.文中除了讨论屏蔽微带线的色散特性外,还讨论了截面不连续处的散射特性以及屏蔽微带线几何尺寸对色散特性的影响,得到了满意的数值结果.     

用双入射角的反射型椭偏术自动测定单层膜厚度

本文提出了应用双入射角的反射型椭偏术,可克服椭偏仪一般只能测定膜层厚度小于1周期值的缺点。该技术已成功地应用于微机控制自动消光法椭偏仪上,能自动测定厚膜的膜厚和折射率。经大规模集成电路生产中使用,效果良好,且能提高测量精度和简化操作。     

5涡卷蔡氏混沌电路的同步技术研究

针对混沌研究的一个热点——多涡卷的蔡氏混沌电路，分别用主动-被动法、相互耦合法、变量反馈法对其进行了同步的仿真研究，并对这3种方法的同步性能进行比较，对进一步加强混沌保密通信技术的保密强度具有一定的重要意义。文中对同步的驱动函数的设计和一些参数的选择具有一定的普适性，可供借鉴。     

电压型PWM整流器直接功率控制系统设计

针对电压型PWM整流器直接功率控制（DPC）系统的特点，基于整流器的数学模型，得出了电压型PWM整流器DPC控制系统结构，并提出了新的整流器DPC控制系统PI调节器参数的设计方法。通过对交流电流、直流电压、瞬时有功功率及无功功率的仿真，结果表明系统具有单位功率因数、系统响应快等优点，证明了该设计方法的正确性.     

十二相整流器二极管功耗和结壳温升仿真计算

为了在十二相整流器设计中,实现仿真计算二极管功耗和结壳温升,保证其在高温的环境中可靠地工作,对非常规小型散热器,选用大容量二极管在中小电流条件下工作,以降低功耗和热阻,充分保证整流器有较高的过载能力,实现高可靠性的设计,提出了特殊要求的整流器体积可以做得更小,为解决目前十二相整流器设计中功耗和结壳温升问题提出了新的思路.     

基于粒子群算法的数字电路测试生成

在已有的数字电路测试生成算法基础上，通过对一种结构简单且容易实现的算法——粒子群算法的研究，提出了一种基于模拟的测试矢量生成的新方法，即应用粒子群算法来进行数字电路的测试生成．对一些组合电路进行了仿真，并将其与基于遗传算法的测试生成方法进行比较，实验结果表明该方法比基于遗传算法的测试生成更为有效．     

基于单周控制的三相三线制有源电力滤波器

设计了一种单周控制的三相三线制有源电力滤波器,该滤波器工作时无需检测三相负载电流和三相输入电压,无需进行繁琐的参考电流、无功电流和谐波电流计算;只需检测两相电源电流和直流侧电容电压,通过简单计算就可直接求出每个开关周期内各开关的占空比.给出了该滤波器的控制方程,并对其进行了仿真研究,仿真结果表明新设计的滤波器能有效补偿谐波和无功电流,抑制负载不对称。     

A New Method for the Detections of Multiple Faults Using Binary Decision Diagrams

With the complexity of integrated circuits is continually increasing, a local defect in circuits may cause multiple faults. The behavior of a digital circuit with a multiple fault may significantly differ from that of a single fault. A new method for the detection of multiple faults in digital circuits is presented in this paper, the method is based on binary decision diagram （BDD）. First of all, the BDDs for the normal circuit and faulty circuit are built respectively. Secondly, a test BDD is obtained by the XOR operation of the BDDs corresponds to normal circuit and faulty circuit. In the test BDD, each input assignment that leads to the leaf node labeled 1 is a test vector of multiple faults. Therefore, the test set of multiple faults is generated by searching for the type of input assignments in the test BDD. Experimental results on some digital circuits show the feasibility of the approach presented in this paper.     

一种基于时延和功耗双重优化目标的布局算法

针对标准单元模式的超大规模集成电路布局问题,提出一种新的基于时延和功耗双重优化目标的布局算法.在以优化时延为目标函数的布局结果基础上,进一步降低芯片的功耗特性,并通过算法设计较好地解决了两者优化方向的一致性.通过标准单元测试电路的实验结果表明,该算法在时延及功耗优化方面综合性能良好.