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61.
研究了一种可用于磁结构表征的基于巨磁阻抗效应分析材料磁结构的模型.在建立巨磁阻抗效应与简化磁结构对应关系模型的基础上,结合磁化矢量正交分解手段,通过调节巨磁阻抗效应与简化磁结构对应关系模型特征参量的方法,获得了各种形状的巨磁阻抗曲线,根据拟合得到的解叠子谱特征,可获知材料内部磁结构的组成和特征.研究结果对于磁性材料内部磁结构的新型表征方法及其内部结构的控制具有重要的意义.  相似文献   
62.
 研究了含附加约束奇异Lagrange量系统(约束奇异系统)的量子化,给出了该约束奇异系统修改的Dirac-Bergmann算法,分析了系统的经典正则对称性,研究了它的路径积分量子化和量子对称性质,通过实例说明经典理论中对称性和守恒律的关系在量子理论中不再有效.  相似文献   
63.
带串联补偿的输电线路纵联阻抗性能分析   总被引:2,自引:1,他引:1  
在系统分析基于串联补偿电容器下输电线路纵联阻抗性能特点和阻值特征的基础上,特别在详细分析串联补偿电容器及其附属的金属氧化物变阻器(MOV)、放电间隙等不同的运行方式在纵联阻抗产生影响的前提下,确立了纵联保护的甄别方法.由于在串联补偿下输电线路分布电容和系统运行方式共同影响纵联阻抗的阻值,因此通过分析和计算才能确定是否需要补偿.一旦纵联阻抗幅值小于设定数值时,就可确定发生区内故障,保护将正确动作;否则,就断定在保护区内没有发生故障,保护将稳定不动.在EMTP软件的仿真中,建立了一条1 000 kV、500 km含工频串联补偿度为45%串联补偿电容器的特高压输电线路模型,进行了在各种故障下的仿真模拟,仿真结果验证了上述纵联阻抗及其算法在串联补偿环境下具有足够的稳定性和可靠性.  相似文献   
64.
针对数控系统力位置控制过程中的力冲击问题,基于阻抗控制基本原理,研究了一种解决该问题的控制策略.以X-Y-Z三轴运动平台为被控对象,建立了系统数学模型以及力传感器动态数学模型.以控制Z轴与工件的恒定接触力为目标,构建了切换控制系统,并证明了闭环系统的稳定性.在Simulink中搭建了力位置双闭环阻抗控制仿真系统,结果证...  相似文献   
65.
最常用的EIS(电化学阻抗)测试用电解槽由有机玻璃制成,管中盛有电解液,并装有辅助电极和参比电极.有机玻璃管的固定可采用两种方式:(1)A装置将有机玻璃管用粘结剂粘在涂层/金属试样上;(2)在B装置中,将有机玻璃管用螺杆固定在两块有机玻璃板中间.本文研究了在两种实验装置下环氧涂层以及环氧富锌涂层的电化学阻抗谱特征,结果...  相似文献   
66.
射频功率放大器是移动通信基站中的关键部件,其性能指标优劣直接影响通信质量好坏.本文基于晶体管MRF7S21150 HR3,在对晶体管绝对稳定性分析的基础上,采用多谐波双向牵引仿真技术得到了最佳基波源、负载阻抗,并进行匹配电路及偏置电路设计,最后得到了应用于WCDMA基站的高效率射频功率放大器.ADS中的仿真结果表明,功...  相似文献   
67.
采用高压力下的原位阻抗谱测量技术,研究了晶界对粉末ZnS电阻的影响.数据分析结果显示:在11 GPa处,ZnS粉末的电阻主要是由于晶界引起的.对于岩盐相的ZnS,其残余电阻也是来自于晶界的影响.在14 GPa处,阻抗谱由双半弧变成一个椭圆型半弧对应于ZnS粉末的高压相转变.  相似文献   
68.
针对考虑附加资源和学习效应的不相关并行机调度问题(unrelated parallel machine scheduling problem, UPMSP),提出一种动态人工蜂群算法(dynamical artificial bee colony, DABC),实现最小化最大完成时间。给出一种新的编码方法和解码过程,并构建2个初始蜂群;提出一种蜂群评估策略,以动态确定雇佣蜂群和跟随蜂群;在雇佣蜂阶段和跟随蜂阶段采用不同搜索策略,以增强算法的探索能力。实验结果表明:DABC的新策略合理有效,且该算法在求解UPMSP时收敛性、平均值和稳定性更强,显示出较强的搜索性能。  相似文献   
69.
研究了添加不同含量Ag@SiO2 纳米材料的环氧树脂涂层在大肠杆菌溶液中浸泡前和浸泡110h后的电化学阻抗谱特征,分别提出了其等效电路模型,并比较了浸泡前和浸泡850h后的涂层形貌变化。结果表明,浸泡后未添加Ag@SiO2 的涂层的阻抗降低了96%,添加0.3%的Ag@SiO2 涂层的阻抗也下降了73%,且两者都出现了明显的锈斑;而添加0.1%的Ag@SiO2 涂层的阻抗和形貌在浸泡前后基本保持不变。可见,添加适量的Ag@SiO2 可以显著提高涂层的耐微生物腐蚀性能。  相似文献   
70.
<正>自激振荡在无线电通讯、广播电视、工业上的高频感应炉、超声波发生器、自动控制、仪表测量、半导体接近开关等方面都具有广泛的用途。但是在放大电路中,由于电路存在附加相移或内阻太大等原因,会引起自激振荡,破坏系统的正常工作。本文,笔者分析了自激振荡现象的产生过程,提出了消除自激振荡的方法,以期对同行有所参考。  相似文献   
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