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991.
氧化带软岩微观特征与单轴压缩宏观力学性能 总被引:1,自引:0,他引:1
为研究氧化带软岩的力学性能,探究微观结构对宏观力学性能的影响.采用微观分析与力学试验结合的方法,对岩石试样分别进行了X衍射分析、电镜扫描试验和单轴压缩试验.试验结果表明:砂质泥岩与泥质砂岩相比,微观结构松散,泥质成分多,容易被孔隙水软化,容易被氧化;砂质泥岩单轴抗压强度为33.45 MPa,弹性模量19.11 MPa,分别为泥质砂岩的52%和58.5%,印证了微观分析的结果,岩石微观结构对宏观力学性能影响显著.研究结论可以用来指导随后的现场设计与施工,对其他材料的力学性能研究起到了一定的借鉴作用. 相似文献
992.
993.
两温区气相输运合成ZnGeP2多晶,易发生化学计量比偏离,产生Ge、Zn3P2等杂相,在合成坩埚(石英安瓿)内壁凝聚一层ZnP2和P的沉积物.通过对合成设备、安瓿尺寸和工艺的改进,采用机械振荡炉体和竖直梯度降温相结合的新工艺,成功地合成出ZnGeP2多晶材料.合成的ZnGeP2多晶,经XRD分析测试,并采用Rietveld法进行全谱拟合精修、计算出各物相的相对含量.结果表明,改进工艺合成的ZnGeP2多晶是高纯单相材料,可用于单晶生长.采用改进工艺合成的ZnGeP2多晶为原料,生长出完整性好的ZnGeP2单晶体,在2.5~8.2μm范围的透过率达60%左右,光学质量较高. 相似文献
994.
利用光栅标量衍射理论的数值求解法,研究一种可以包埋蛋白质分子的梯形聚合物光栅,用于制作光学生物芯片.通过分析二元光栅结构参数和折射率的变化对±1级和0级衍射光强比的影响,获得优化的光栅结构参数:光栅凹槽深度h0为0.6μm;光栅周期d为4μm;工作波长λ为632.8nm;聚合物折射率n0为1.522;两斜边角度α1为31°,α2为90°;占空比v为0.7;埋入核酸适体厚度h为0.05μm. 相似文献
995.
乙基四甲基环戊二烯基铁羰基化合物的合成及晶体结构 总被引:1,自引:0,他引:1
将C5Me4HCH2CH3和Fe(CO)5在二甲苯中加热回流,合成了一个新的双核配合物[(η5-C5Me4CH2CH3)Fe(CO)(μ-CO)]2.通过元素分析、红外光谱、核磁共振氢谱对其结构进行了表征.用X线单晶衍射法测定了该配合物的结构,结果表明:晶体属于单斜晶系,C2/m空间群,a=1.170 4(5)nm,b=1.217 9(5)nm,c=0.930 4(4)nm,α=90°,β=115.842(4)°,γ=90°,V=1.193 6(9)nm3,Dc=1.445g/cm3,μ=1.245mm-1,F(000)=542,Z=2,R1=0.024 2,wR2=0.062 0.CCDC号为839243. 相似文献
996.
997.
对高帧率超声成像方法进行综述,介绍基于加权处理的高帧率成像方法、改进的高帧率超声成像方法、基于方波加权的高帧率成像方法和其他形式的高帧率成像方法,还分析了高帧率成像方法中的阵元数量、图像质量与帧率等问题. 相似文献
998.
针对多峰分布微粒粒度衍射测量中,Chin-Shifrin积分变换反演噪声较大而易被误读为分布峰的问题,提出了一种插入函数方法,模拟计算结果证明了该方法的可行性。以线阵CCD为接受器件,对双峰、三峰及四峰分布的微粒系进行了实验测量,结果显示:采用插入函数后反演噪声基本消失,而原分布峰的个数及位置均不受影响。说明该方法可以较准确地还原原分布。反演的结果还指出可通过增加物镜焦距来避免反演谱尾部上翘现象,但也可能导致大角的数据丢失引起其他问题,在实际测量中必须采用恰当的焦距,才能达到满意的效果。 相似文献
999.
用1,4-环己二酸分别与三苯基氯化锡,三甲基氯化锡,三丁基氯化锡,三苄基氯化锡反应,得到了[(Ph3Sn)2](C8H10)(COO)2]1,(Me3Sn)2[(C8H10)(COO)2]2,[(n-Bu)3Sn]2[(C8H10)(COO)2]3和[(PhCH2)3Sn]2[(C8H10)(COO)2]4四个新型的化合物,并通过元素分析、红外光谱和核磁共振氢谱对其结构进行了表征.其中化合物1还通过X-射线单晶衍射进行了表征.单晶结构表明配合物1是一个二锡核的单体三苯基锡化合物,在配合物1中羧酸配体上的两个羧基都参与了配位,中心锡原子都是扭曲的四配位的四面体构型. 相似文献
1000.
针对利用简单加倍的方法求解点源球体解析解的局限性,采用双球坐标系,通过镜像法求解点源下球体的精确解,将其与简单加倍求得的近似解进行对比,给出了简单加倍方法的适用条件,从而在实际中能够更准确地使用简单加倍的方法.研究结果表明:对于二极装置,当球心埋深h≤1.5r0时,利用简单加倍方法求得的近似解与精确解的误差已达到10%以上;对于中梯装置,当球心埋深h≤1.7r0时,二者的误差达到10%;二极装置的视电阻率曲线随着极距AM的增加会出现反向异常的现象,且极距越大,反向异常越明显. 相似文献