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1.
推导了光栅参数与小波频谱值之间的数学关系.采用矢量衍射理论和标量衍射理论两种方法分别计算光栅的衍射效率,并分析两者近似相等的条件,导出光栅参数和小波谱值的关系.以墨西哥帽小波为例计算平面透射光栅的狭缝宽度,获得平面透射光栅参数、衍射效率和墨西哥帽小波谱值的关系. 相似文献
2.
模压全息制品的质量主要体现在制品的光栅衍射效率,即彩光效率.但是科学的测量方法的建立和光谱衍射效率的精确测量比较困难.目前,国内外尚未建立评判标准和发明测量装置.提出了一种基于测量彩光效率的评判方法,搭置了相应的光谱衍射效率测量系统,并且提供了详细的测量结果. 相似文献
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华家宁 《南京师大学报(自然科学版)》1989,12(3):31-35
本文提出一种计算光栅衍射效率理论值的方法,用这种方法推出了各种类型光光栅衍射效率的普遍公式並研究了取得最佳衍射效率的条件。 相似文献
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楼智美 《温州大学学报(自然科学版)》2000,21(3):14-17
本文通过对三种典型衍射光栅的透过率函数进行傅里叶级数展开,系统地计算并分析了其衍射效率,并得到了衍射效率的光谱响应和制作误差容限,从而为光栅根据不同需要进行优化设计提供了理论依据。 相似文献
5.
基于矩形光栅的标量衍射效率公式,提出一种根据0级和1级衍射效率比来测量浮雕矩形光栅的刻槽深度和折射率的方法,并对衍射效率与刻槽深度和入射角的关系进行分析.对刻槽深度分别为2.90,1.01μm的熔石英离子刻蚀矩形光栅进行测量,从实验上验证测量方法的正确性.研究结果表明:通过测量透过光栅的0级和1级衍射光强比,可反演出矩形光栅刻槽深度和塑料光栅材料的折射率,所测量光栅刻槽深度和折射率的误差均小于1%. 相似文献
6.
基于矩形光栅的标量衍射效率公式,提出一种根据0级和1级衍射效率比来测量浮雕矩形光栅的刻槽深度和折射率的方法,并对衍射效率与刻槽深度和入射角的关系进行分析.对刻槽深度分别为2.90,1.01μm的熔石英离子刻蚀矩形光栅进行测量,从实验上验证测量方法的正确性.研究结果表明:通过测量透过光栅的0级和1级衍射光强比,可反演出矩形光栅刻槽深度和塑料光栅材料的折射率,所测量光栅刻槽深度和折射率的误差均小于1%. 相似文献
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光栅衍射效率是光栅的重要参数.设计了用双光路并利用计算机作数据采集和处理来测量光栅衍射效率的方法.实验中使用的微电流放大器的分辨能力为10pA.自行研制了数据采集卡以及编写了基于计算机的增强型并行接口(enhanced parallel port,EPP)协议的软件,使得测量精确度达到2.1%.能够较好地满足光栅衍射效率的测量. 相似文献
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运用matlab强大的计算和绘图能力,对光的双缝干涉、单缝夫琅禾费衍射、双缝衍射和衍射光栅的光谱进行仿真.仿真程序可以显示单色光入射时的光谱图样和光强分布曲线,并可输入实验参数,观察在不同条件下图像及光强曲线,并分析了它们各自的特点. 相似文献
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叙述了严格耦合波分析方法的理论框架,基于严格耦合波分析方法编制了金属介质膜光栅数值模拟程序。以-1级衍射效率优于97%的光谱宽度为评价函数,通过计算机优化分析,设计了一种金属介质膜光栅。在TE偏振模式下,能够在以800nm为中心波长100nm以上的光谱宽度内获得97%以上的衍射效率。 相似文献
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采用塑料矩形光栅作为生物传感器,将生物分子介质置于光栅凹槽内,通过测量光栅衍射效率进行传感测量.给出塑料光栅生物传感器的厚度法和折射率法传感特性公式,并通过建立测量实验装置进行葡萄糖溶液浓度的测量.结果表明:传感器具有很好的线性响应,且厚度法比折射率法具有更高的灵敏度,前者测量灵敏度优于100 μg·dL-1. 相似文献
12.
用光致抗蚀剂为记录介质制作1200条/mm反射全息光栅并测试它的性能._其衍射效率最高可达60%,#FK分辨本领可达到同类型刻划光栅的水平. 相似文献
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平面波倾斜入射时的夫琅和费衍射花样 总被引:2,自引:2,他引:0
曹国荣 《安徽师范大学学报(自然科学版)》2000,28(1):22-26
在非近轴条件下 ,夫琅和费衍射花样的观察面是球面 ,平面上观察到的衍射花样是球面上衍射花样在平面上的投影 ,讨论了平面波倾斜入射在一维朗奇光栅上产生的衍射花样偏离直线的原因 ,实验结果和理论分析一致 . 相似文献
14.
为克服传统记录方式光栅一级衍射效率不高对液晶空间光调制器应用产生的限制,采用斜入射方式记录了非对称薄动态全息相位光栅,光栅的一级衍射效率达到60%。基于非对称的液晶分子取向,给出了光栅产生的物理机制,提出了非对称光栅的数学模型。该研究促进了液晶材料在实时光学信息处理领域的科举研究,拓宽了液晶材料的应用范围。 相似文献
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自带计量标准器的二维位移工作台研究 总被引:6,自引:1,他引:6
提出以平面正交衍射光栅作为二维位移工作台计量标准器的方法,随工作台的移动,光栅能同时检测一个平面上两个方向的位移.阐述了正交衍射光栅作为位置检测元件的工作原理及其光路布置方法。二次衍射光线的两两迭加,形成两组干涉条纹信号,且这两组干涉条纹信号的相移与光栅两个正交方向的位移呈正比,通过光电转换和计数细分处理电路得到条纹信号的相移;检测光路布置在工作台下方,通过几组直角棱镜使干涉条纹信号进入光电探测器.实验分析了工作台的测量精度,有效分辨率提高到10nm. 相似文献
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