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相似文献
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1.
分别测定了PAC电极(Pb-Ag-Ca新型阳极的简称)在MnSO4-H2SO4溶液中的阴极极化曲线及阳极极 线,从图中求得:icor=15.85μA/cm^2,ψωr=-0.095V,Vcor=2.95Kg/m^2ann.7.90%(电极重量每年消耗的百分数)i。(2)=54.70μA/cm^2及i。(3)=1.10μA/cm^2;讨论了PAC阳极的腐蚀机理即反应(2)受反应(3)的动力学参数所  相似文献   

2.
采用SOL-GEL方法分别在Si和含有SiO2的衬底上制备出PZT铁电薄膜,并获得了MFS和MFOS结构.利用MOS结构常用的C-V特性分析方法,对MFS和MFOS结构进行了高频C-V特性测试分析,研究了F/(O)S的界面特性,结果表明,金属/PZT/SiO2/Si的MFOS结构具有较低的界面态,可实现极化存储,并可望制成铁电场效应晶体管.  相似文献   

3.
采用SOL-GEL方法分别在Si和含有SiO2的衬底上制备出PZT铁电薄膜,并获得了MFS和MFOS结构。利用MOS结构常用的C-V特性分析方法,对MFS和MFOS结构进行了高频C-V特性测试分析,研究了F/(O)S的界面特性,结果表明,金属/PZT/SiO2/Si的MFOS结构具有较低的界面态,可实现极化存储,并可望制成铁电场效应晶体管。  相似文献   

4.
用射频磁控溅射法在Pt/Ti/SiO2/Si(100)结构衬底上沉积了高度C轴取向La改性的PbTiO3(PLT15)薄膜.研究了PLT15薄膜的电晕极化方法,用此方法同时对多个热释电敏感单元进行了极化.利用PLT15薄膜制备了热释电红外传感器,薄膜厚度是2μm,真空蒸发的Ni-Cr电极面积为1.2mm×1.0mm,敏感元下的Si(100)基片用热KOH和EPW进行刻蚀.用所设计的热释电系数测试系统对PLT15薄膜样品进行了测试,研究了其热释电特性.测试结果表明,PLT15薄膜样品的热释电电流ip平均为2.1×10-11A,而对应的热释电系数p为2.52×10-8C·(cm2·K)-1.这类薄膜很适合制备红外传感器  相似文献   

5.
用射频磁控溅射法在Pt/Ti/SiO2/Si(100)结构衬底上沉积了高度C轴取向La改性的PbTiO3(PLT15)的薄膜,研究了PLT15薄膜的电晕极化方法,用此方法同时对多个热释电敏感单元进行了极化,利用PLT15薄膜制备了热释电红外感器,薄膜厚度是2μm,真空蒸发的Ni-Cr电极面积为1.2mm×1.0mm,敏感元一的Si(100)基片用热KOH和EPW进行刻蚀,用所设计的热释电系统测试系  相似文献   

6.
阴极共沉积Ni(OH)2薄膜在碱淀粉液中的电化学特性   总被引:1,自引:1,他引:0  
采用阴极电沉积法在镍基底上制备Ni(OH)薄膜,循环伏安法在1.0mol.dm^-3KOH溶液中测量了薄膜电极的催化析氧特性,沉积Ni(OH)2的薄膜电极比镍基底增加了20mA.cm^-2的析氧电流。在制膜过程中掺杂7%Ce(V/V)得到的复合氢氧化镍薄膜电极在碱溶液中的析氧电流又增加了约20mA.cm^-2,分光光度法和薄层扫描分析法对薄膜进行了成分分析。  相似文献   

7.
采用溶胶-凝胶和原位生长工艺成功地制备了 CdS/SiO2和 ZnS/SiO2半导体微晶掺杂玻璃,给出了该样品三阶非线性光学性质的实验研究方法及其最新实验结果.利用简并四波混频技术测得其三阶非线性极化率的大小在10-20m2/W.此结果比纯SiO2基体提高约2~3个数量级.表明半导体掺杂玻璃的三阶光学非线性明显增强.在同样实验条件下,测得 CS2的三阶非线性极化率X(3)为(2.4±0.3)× 10-20 m2/W,与国际上报导的结果完全一致.  相似文献   

8.
采用SOL-GEL工艺在SiO2/Si衬底上制备了铁电薄膜,对PZT/SiO2/Si结构进行了XPS分析,结果表明,在PZT铁电薄膜和硅衬底之间加SiO2使F/S界面得到了改善.  相似文献   

9.
当脉冲辐照a-Si∶H膜的XeCl激光能量密度在240mJ/cm ̄2以上时,可引起被辐照膜发生明显的固相晶化;通过拉曼(Raman)散射谱、扫描电子显微照象(SEM)和紫外(UV)分光光度吸收谱的实验,研究了不同辐照条件、不同膜厚及各种膜结构试样的晶化效果;还研究了使用CO_2激光退火对被辐照膜的影响。结果表明,晶化膜的晶粒大小在0.1~1.0μm时,Raman位移为510cm ̄(-1)~517cm ̄(-1)、半峰高宽度为10cm ̄(-1)~15cm ̄(-1);a-Si∶H膜经XeCl激光辐照或CO_2激光退火后,都会增强晶化膜的吸收效率。  相似文献   

10.
锑在弱碱溶液中阳极成膜规律的研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
张亿良 《江西科学》1996,14(2):76-80
利用恒电位阳极极化电流与极化时间的关系、线性电位扫描及X射线衍射研究了锑在2.5×10-5mol/m3NaHCO3+2.5×10-5mol/m3Na2CO3+5.0×10-4mol/m3Na2SO4溶液中(pH=9.1,30℃)于1.2V(VS.SCE)阳极成膜3h,阳极成膜规律及膜相组成与结构。实验结果表明,本工作中的阳极膜主要由Sb2O3(斜方)晶体构成,成膜规律为锑的溶解与锑氧离子SbO+的生成→锑氧化物膜的形成与增厚→氧化物膜的钝化。  相似文献   

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