散斑空间尺度及动态散斑分析

以干涉、衍射及散射理论为基础介绍了散斑的形成、分类,并根据杨氏干涉及菲涅尔衍射理论.推导出静态散斑横向尺度及纵向尺度,给出了散斑的空间形状并对静态散班和动态散斑作了分析,总结出动态散斑三个衍射带的基本特点。     

白光散斑法的几个基本问题

本文进一步分析了白光散斑全场位移分析公式,给出全场分析法与逐点分析法衍射晕、灵敏度以及条纹级数之间的关系,讨论了白光散斑法的最小可测位移,给出一种简单的提高白光散斑灵敏度的方法,使其测量灵敏度接近波长级。本文还给出二种干涉条纹级数判别与细分及计算刚体位移影响的方法。     

超快动态散斑相关函数的理论研究

将散斑场现象的研究推广到超快领域，从超快激光谱分析和散斑统计理论出发，推导出了超快散斑光强自相关函数。由此研究了超快动态散斑随时间和空间的演化规律，发现了超快散斑的一些基本特征，如散斑颗粒中存在干涉条纹结构及其空间周期随时间减小等，其实质在于等效的散射孔径为物面上两个不断向外扩展的对称孔径，它们之间的距离不断增大，从而使相应的观察面上的光波产生干涉而导致散斑结构中出现干涉条纹，并且干涉条纹的间距不断减小，表现为散斑自相关函数呈现不断加快的振荡。     

散斑光场干涉特性的研究

给出一种新的实验方法观察散斑光场的干涉条纹.实验中用强度关联测量可以观测到非相干光的鬼干涉、鬼成像和亚波长干涉,而我们在实验中直接用强度测量的方法来观察散斑光场的相干性,直接将强度叠加得到了类似双缝干涉的图样,并给出了理论解释,理论分析的结果和实验得到的图像相一致.     

双片双光束散斑干涉法

作者在本文中首次提出双片双光束散斑干涉法,并成功地进行了实验.实验表明:其干涉条纹分布与二次曝光双光束散斑干涉条纹分布相同.这与本文理论推导得到的结论完全一致.但双片法相对于双曝光法具有减少量测工作量和降低累积误差,并可以在自然光下准确加载等优点.     

研究散斑场相位差统计性质的新方法

提出了具有一般性的新的理论方法,研究散斑场相位差的统计性质.根据相位差和散斑复振幅的关系,得到了散斑场相位差标准偏差的一般性表达式.用这种新的方法研究了衍射场高斯散斑场相位差的统计性质.     

双光束散斑干涉法的测试范围新探

在文献基础上,探讨了双光束散斑干涉法的测试范围.解释了“新现象”存在的必然性,打破了散斑干涉法的测试上限为散斑照相法的测试下限(即散斑的统计平均直径d_■)这一传统说法.指出散斑干涉法的测试上限为d_■的55倍左右.这一结论对散斑干涉法的推广和应用十分有益.     

双光束载波散斑干涉法

本文提出的双光束载波散斑干涉法是将载波原理与双光束散干斑涉法相结合,通过光载波条纹对全场干涉条纹的规范化调制,然后通过计算机进行解调而达到高精度测量的一种新的测试方法。它提高了双光束散斑干涉法的测试灵敏度,精度和扩大了测试范围。     

电子剪切散斑干涉术中剪切棱镜误差分析

对剪切棱镜的出射角及放置位置在电子剪切散斑干涉中产生的影响作了理论分析，分析表明，剪切棱镜的出射角及与CCD的距离越小，测量的精度越高，但灵敏度越小．     

二次曝光双光束散斑干涉新现象及其论证

本文在前人研究的基础上,通过双光束散斑干涉实验发现了一些新的物理现象,在同张双光束散斑干涉图中,同时记录有等同于单光束散斑照相的信息;干涉条纹受照相条纹的调制等。本文对上述现象作出了从数学、物理方面论证,得到了一些有益的结论。