氢键系统中Bjerrum孤子偶缺陷的运动

以一个新的二分量孤子模型为基础,讨论了氢键系统中Bjerrum孤子缺陷在外场作用下的运动特性,研究了Bjerrum孤子偶缺陷对于电磁波的散射,得到了Bjerrum孤子偶缺陷对电磁波的散射截面和迁移率的表达式。     

在非均匀氢键链中取向孤子缺陷的运动

讨论了一种氢键链中取向缺陷的孤子模型，并在这个模型的基础上利用集合坐标法研究扭结孤子与杂质的相互作用，得到了杂质区孤子的有效势能和入射孤子的临界速度表示式。最后，我们讨论了杂质模。     

氢键链中离子缺陷和键缺陷孤子的稳定性

以双参数双周期势的二分量孤子模型为基础，利用Ｌｉａｐｕｎｏｖ函数方法，证明了氢键链中的离子缺陷和键缺陷孤子具有稳定性．     

氢键固体中的二分量孤子动力学

在Ａ．Ｇｏｒｄｏｎ的单分量孤子模型的基础上，考虑了重离子运动的影响，讨论了氢键固体中的质子转移的二分量孤子模型，并得到了孤子的迁移率和电导率的表达式。     

氢键系统中孤子偶与杂质的相互作用

采用集合坐标方法，运用新的二分量孤子模型，研究氢键系统中孤子偶与杂质的相互作用，得出在杂质区孤子偶的运动方程和入射速度的一般表达式，并进一步讨论在吸引型与排斥型两类不同杂质情况下孤子偶的运动特性．     

氢键链中离子缺陷和键缺陷的孤子统计理论

以双参数双周期势的二分量孤子模型为基础，利用理想气候唯象近似的方法，研究了氢键链中离子缺陷和键缺陷的统计问题，得到了离子型和取向型孤子偶密度，并计算了两类孤子偶的核化率。     

氢键链中孤子对外场的响应

以二分量孤子的振子模型为基础，讨论了质子子晶格与重离子子晶格中扭结孤子形成的孤子对的运动及其孤子对外场的响应持性，并得到了氢键链中孤子对的迁移率表达式。     

具有双参数双周期势的氢键分子链中的二分量孤子

在Ｚｏｌｏｔａｒｉｕｋ等人模型的基础上，考虑重离子晶格与质子子晶格之间的非线性耦合，提出了双分量参数双周期晶格势的孤子模型，并研究了此模型中参数ｂ对二分量孤子运动的影响。     

氢键分子系统的二分量孤子偶模型中的非谐特性

以氢键分子系统中二分量孤子模型为基础，采用直接微扰方法，研究了氢键系统中非谐相互作用下扭结孤子偶的运动特性，获得了3次方到4闪方非谐项古孤子偶的非对称解，计算了源于非谐项下孤子偶的能量，与实验观察相一致。     

氢键链哼子缺陷和键缺陷孤子的稳定性

以双参数双周期势的二分量孤子模型为基础,利用Ｌｉａｐｕｎｏｖ函数方法,证明氢键链中的离子和键缺陷孤子具有稳定性。     

关于亚纯函数导数亏量和的精密上界

本文讨论了亚纯函数导数的亏量和的一些精密估计,主要的结果如下:设f(s)为超越亚纯函数,n为任一自然数,则有:■由此可立即推出:■     

一维有限光子晶体中的单个缺陷

在一维有限光子晶体中利用传输矩阵推导了其反射和透射系数,并讨论了单个缺陷位置对透射系数的影响,发现单个缺陷在晶体中不同位置具有相同的缺陷模频率,但其透射峰具有不同的高度,同时当缺陷在晶体中心时,其透射峰最高。     

自动Java代码缺陷检测技术

代码审查是一种高效的程序缺陷检测方法,因为它能够在软件开发的过程中找出程序的错误,这很大程度上降低了改正错误的成本.但是传统的代码审查是一种劳动力密集型的方法,为了提高代码审查的效率,一系列的自动化代码缺陷检测技术和工具已经被提出并得到了广泛的应用.本文介绍了支持代码审查的自动化代码缺陷检测技术的相关内容.结合Java语言的特点对自动代码缺陷检测体系结构和工作的原理做了论述,并引入了缺陷模式树来提高检测的速度;最后通过具体的实验来分析了自动化代码缺陷检测的有效性和高效性.     

铸造缺陷的计算机分析系统的研究

介绍了”铸造缺陷的计算机分析”课题的意义、国内、外的研究情况、本课题的研究内容 ,用VISUALBASIC制作该软件的方法 ,以及软件的安装和使用     

一维光子晶体本征模频率

利用传输矩阵法,严格推导出了一维光子晶体中的本征模频率方程,该本征模频率也就是缺陷模频率,它依赖于缺陷材料的光学常数、大小以及缺陷的类型;不同类型的缺陷会导致其相应的能级类型发生变化.     

基于特征选择的软件缺陷预测方法

软件缺陷对软件功能的实现具有不可预知的危险,是软件产品的固有成分,提高软件的可靠性,关键在于降低软件缺陷出现的概率,而如何利用已有缺陷数据构建预测系统框架是研究的重点.针对传统软件测试技术虽然能够有效发现软件缺陷,但需要消耗大量的时间和精力,制约软件开发效率的缺点,提出基于特征选择的软件缺陷预测方法,算法对软件缺陷模型的经验数据集进行多特征选择,进而克服数据集之间的冗余性移除无关特征,得到缺陷模型的分类,最终实现软件缺陷的精确预测.实验表明,基于特征选择的软件缺陷预测方法具有较好的预测效果和较高的应用价值.     

一维光子晶体的缺陷模式研究

利用传波矩阵方法,计算了电磁波在带有缺陷的一维光子晶体中的传波。数值计算表明,在只有一个缺陷层时,缺陷模式频率与缺陷层在光子晶体中的位置无关,当有两个缺陷层出现时,缺陷模式频率与缺陷层在光子晶体中的位置是有关的。另外,计算也表明,缺陷模式频率对缺陷层材料的折射率变化是非常敏感的。     

图像处理用于织物疵点自动检测的研究进展

织物疵点自动检测、代替传统的人工检测方法是纺织品质量控制和管理的重要环节，同时又是纺织自动化的重要标志之一，基于图像处理的织物疵点检测，主要是通过图像分析，从图像中发现与正常纹理不同的部分，这方面的研究一直在持续，新的方法不断出现，但较为成熟的检测系统较少，开发适合我国纺织业的织物疵点自动检测系统，具有深远意义。     

一种软件缺陷预测改进模型的研究

研究考虑缺陷移除失败的软件缺陷预测改进模型,以提高缺陷预测能力.分析了传统Rayleigh模型的不足,在考虑缺陷移除失败因素的基础上,建立缺陷预测改进模型,并使用经验值及最大似然法估计获得模型参数.实例验证表明,改进模型可以有效地提高软件缺陷预测值与实际值的拟合度.     

浅论产品的发展缺陷

关于由产品发展缺陷引起的损害,各国的归责原则不尽一致。在坚持发展缺陷抗辩的原则下,更应兼顾生产者与消费者权益的平衡,以达法律公正之目的。