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相似文献
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1.
利用诱导效应指数,分别建立了计算烷基衍生物的标准生成热、键裂能的方法,并且得到自由基的生成热的计算方法。计算了一些烷基衍生物的标准生成热、键裂能及自由基的标准生成热,平均偏差分别为2.18kJ·mol-1,2.39kJ·mol-1,1.87kJ·mol-1。  相似文献   

2.
建立了利用基团电负性计算含氮含硫有机物标准生成热的简单方法,利用此方法计算了一些常见含氮含硫有机物的标准生成热,38个可比较值的平均偏差为3.81kJ·mol(-1)。  相似文献   

3.
】本文建立了用基团电负性计算含氮含硫有机物的键裂能的简单方法。利用此方法计算出22个含氮含硫烷基衍生物的键裂能,其平均偏差为3.97kJ·mol-1。  相似文献   

4.
利用诱导效应指数建立了一个用以计算合硫含氮有机物标准生成热的简单方法,利用此法计算了一些常见含硫含氮有机物的标准生成热,32个可比较值的平均偏差为2.6kJ·mol-1。  相似文献   

5.
本文建立了用基团电负性计算含氮含硫有机物的键裂能的简单方法。利用此方法计算出22个含氮含硫烷基衍生物的键裂能,其平均偏差为3.97kJ·mol^-1  相似文献   

6.
利用诱导效应指数,建立了两种计算硅烷基衍生物XSiRxH3-x的标准生成热的方法,18个可比较值的平均偏差分别为2.46kJ·mol-1,1.41kJ·mol-1。同时得到两种计算XSiRxH3-x键裂能的方法。18个可比较值的平均偏差分别为2.52kJ·mol-1,1.43kJ·mol-1。  相似文献   

7.
建立了用基团电负性计算含氮含硫有机物的键裂能的简单方法.利用此方法计算出22个含氮含硫烷基衍生物的键裂能,其平均偏差为3.70kJmol-1.  相似文献   

8.
通过研究与基团X的诱导效应指数I间的关系,提出一个方程:(式中:),P为HX分子中氢原子的个数,I为诱导效应指数)。利用上式,计算了一些甲基衍生物CH3X(X=F,OH,Cl,NH2,Br,SH,PH2,SeH)的标准生成热,计算结果的平均偏差为1.7kJ·mol-1,同时推导出由和I计算烷基衍生物标准生成热的方法,计算了31个烷基衍生物的生成热,计算结果的的平均偏差为3.3kJ·mol-1,还计算了22个烷基衍生物的键裂能,计算结果的平均偏差为2.0kJ·mol-1。  相似文献   

9.
利用基团电负性建立了一个计算直链含硫含氮有机物标准汽化热的简单方法,并计算了一些直链含硫含氮有机物的汽化热,44个可比较值的平均偏差为0.68kJ·mol-1.  相似文献   

10.
利用诱导效应指数I,建立了计算一些CH3-X的键裂能的方法,并计算了一些甲基衍生物CH3-X的键裂能,其平均偏差为1.93kJ·mol-1。同时,推导出由DHOm(HX)和I计算烷基衍生物的键裂能的方法。23个可比较值的平均偏差为2.68kJ·mol-1。  相似文献   

11.
基于基团电负性用硅烷基的结构参数建立了硅烷基衍生物H3-xRxSi—X键的键离解能以及硅烷基自由基生成热的经验计算方法,利用此方法计算出了一系列H3-xRxSi—X键的键离解能,与已知的28个文献数据比较,平均偏差为4.02 kJ.mol-1,计算出来的烷基自由基的标准生成热与已知的4个文献值比较,平均偏差仅为0.30 kJ.mol-1。  相似文献   

12.
利用诱导效应指数建立了一个含羰基有机化合物的标准生成热的简单计算方法。利用此法计算了一些含羰基有机化合物的标准生成热,37个可比较值的平均偏差为1.48kJ·mol(-1)。  相似文献   

13.
利用诱导效应指数,建立了计算含氧直链有机物的标准汽化热的简单方法。据该法计算所得40个可比较值的平均偏差为0.97kJ·mol(-1)。  相似文献   

14.
本文发现了键裂能的差值△DH~0(Me-X/R-X)与基团电负性的线性关系,从而建立了一个计算R-X键键裂能的简单方法:DH~0(R-X)=DH~0(CH_3-X)-(a_mx_G+c_m)式中,R为烷基;X代表CI、Br、I、OH、NH_2、SH、CH_3;X_G是作者前一工作建立的基团电负性:a_m和c_m是与烷基结构因素相关的常数.对于14个可比较的值,其平均偏差为1.30kJ/mol,最大偏差为3.01kJ/mol.同时,烷基和烷氧基自由基的标准生成热也被准确地估算,9个自由基估算的平均偏差为1.63kJ/mol,最大偏差也只有3.54kJ/mol.  相似文献   

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