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X射线荧光光谱法用于CIGS薄膜太阳电池中吸收层的定量分析
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O657.34

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XRF Quantitative Analysis of the Absorb Layer in the CIGS Solar Cell
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    摘要:

    介绍了X荧光薄膜分析法测试CIGS薄膜太阳电池中吸收层的4种元素的比例，并对其进行了分析和研究，此方法测量速度快，精确度高，对于制备高效率的CIGS太阳电池具有重要的指导意义。

    Abstract:

    The atomic ratios of the four elements (Ga, In, Cu and Se) in the absorb layer of the CIGS thin film solar cell were quantified by XRF. The obtained results are very helpful for better preparation of the CIGS solar cell.

    参考文献
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引用本文

刘芳芳 何青 李凤岩 周志强 孙云. X射线荧光光谱法用于CIGS薄膜太阳电池中吸收层的定量分析[J]. 科学技术与工程, 2006, (18): 2949-29512957.
LIU Fangfang, HE Qing, LI Fengyan, et al. XRF Quantitative Analysis of the Absorb Layer in the CIGS Solar Cell[J]. Science Technology and Engineering,2006,(18):2949-29512957.

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  • 收稿日期:2006-06-05
  • 最后修改日期:2006-06-05
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